Технические характеристики микрографического оборудования МФ 2002 А1+ *

Формат

А1+ на 35 мм на неперфорированную рулонную галогенидосеребряную пленку

Кратность оптической системы

  • Минимальная: 10,5 Х
  • Максимальная: 36 Х

Разрешающая способность

150 мм—1

Шаг изменения кратности

0,01 мм

Шаг кадра

42 мм

Линейное расстояние от края пленки до поля кадра

2,5 мм

Размер кадра

40 х 30 мм

Межкадровое расстояние

2 мм

Размер оригинала

700 мм х 1000 мм

Ширина пленки

35 мм

Максимальная поддерживаемая длина пленки

  • Стандартная пленка: 30,5 м
  • Тонкая пленка: 65,5 м

Толщина пленки

Поддержка пленки толщиной до 0,13 мм

Управление

Сенсорная панель

Управление натяжением микрофильма

С помощью пневматического блока

Блок камеры

  • Съемный камерный блок
  • Изменяемая высота подвеса камерного блока по шкале DIN
  • Поворот камерного блока (360 градусов)

Объектив

Объектив высокого разрешения (40 мм), управляемый микропроцессором, с автоматической фокусировкой и регулируемым уровнем фокусировки

Выдержка затвора

Автоматическое изменение выдержки затвора

Поверхность съемки

  • Съемочный стол с прижимным стеклом, каркас стола оборудован колесами для оперативного перемещения.
  • Автоматическая регулировка прижима и автоматическое опускание колыбели после съемки

Прижимное стекло

  • Прижимное стекло автоматизированное, рабочий диапазон в пределах не более 0 и не менее 70 градусов
  • Датчики прижимного усилия стекла к оригиналу

Система освещения

Освещение светодиодными источниками холодного света без ИК и УФ излучения

Экспозиция

Функция автоматического позиционирования пленки после экспозиции

* — Производитель оставляет за собой право на внесение изменений в конструкцию и комплектацию изделия, не снижающие качество и технические характеристики оборудования.
Название модели может иметь добавочный буквенно-цифровой код, в зависимости от комплектации поставляемого комплекса дополнительными программными и аппаратными модулями.

Запросить цену